蔡司三坐标测量机

作为一款通用型测量工具，spectrum沿袭了zeiss成熟的测量设计理念，进行合理的软硬件搭配，造就了产品的

重要特征：

1、超硬铝制部件---了整体桥架结构的长期稳定性

2、采用零膨胀玻璃陶瓷材料光栅尺，---降低了温度变化对测量结果的不利影响

3、高度集成的动态c99控制柜，---了测量过程的稳定

4、双---杆数字式控制面板，人体工学设计，操作简便，内嵌led显示，信息丰富

触发测头

我们以测量一个圆为例，分别评价其直径、位置度、圆度。众所周知，确定一个圆所需的很少测点数目是3个，这样就能拟合出一个理论圆，且该圆的圆度是0。在实际测量中，很少发生仅用3个点就确定被测圆的情况。即使是对于公差较大的非关键尺寸，都会至少采集4个点用以确定被测圆，以免受到干扰因素影响导致产生较大误差。

扫描测头

扫描测头在进行单点触发采点时，其工作方式与触发式测头有很大的区别。触发式测头的采点是在测头触发开始时发生的;而扫描测头则是采用模拟信号转换的方式，其单个采点是在测头触发结束、测针离开物体表面时发生的。这两种不同的采点方式造成的显而易见的区别就是触发测头采点速度---高于扫描测头。触发测头的采点给人的感觉是“一碰即退”，而扫描测头采点则是测针碰到工件后，会短暂粘滞在工件表面，然后缓慢回退至离开工件表面。

接触式测头采点

非接触式光学测头直接利用光点的反射信号来获取被测点的坐标，不存在半径补偿的环节，因此能够完全余弦误差产生的源头。再者，在测量易变性零件时，虽然测力不大，但零件还是会在力的作用下造成一定变形(例如下图中的薄叶片，测量顶部截面时，叶盆时叶片受到测力影响朝叶背方向弯曲，反之亦然)。虽然弯曲变形量不大，但是考虑到叶片本身极薄，其相对变形量还是非常---的，会对得出的轮廓度与位置度都造成非常大的影响。